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AFM及扫描探针帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-Wafer 可检测半导体
唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆制造厂检查和分析
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AFM及扫描探针Park NX-3DMPark原子力显微镜 Park NX-Wafer产品彩页介绍
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AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX-Wafer 应用于电池/锂电池
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX-Wafer 应用于电池/锂电池相关资料,进一步了解产品。 CMP进行表征的长范围轮廓扫描平坦化是在使用金属和介电材料的后段工艺中最
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AFM及扫描探针安捷伦
技术参数:大范围高精度扫描探针显微镜 安捷伦5500LS规格: -标准真空夹持台尺寸: 150毫米-样品厚度: 最大35毫米-检测区域: 150mm x 150mm-全电动、光学可控-光学
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Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料
点击查看下载Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
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帕克 NX-Hybrid WLI 全自动工业 WLI-AFM 系统
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Park NX-Wafer帕克 NX-Wafer 原子力显微镜AFM及扫描探针 帕克重磅推出强大的新型半导体工具“Park NX-Hybrid WLI”
点击查看下载Park NX-Wafer帕克 NX-Wafer 原子力显微镜AFM及扫描探针 帕克重磅推出强大的新型半导体工具“Park NX-Hybrid WLI”相关资料,进一步了解产品。 帕
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帕克 NX-PTR 原子力显微镜
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帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本
点击查看下载帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park原子力显微镜AFM及扫描探针 样本相关资料,进一步了解产品。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确
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AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX20 样本
点击查看下载AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX20 样本相关资料,进一步了解产品。 没有前沿或后沿过冲现象终身无需校准,减少设备维护成本Park NX系列原子力显微镜 传统的原子
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